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人工晶狀體半成品測量儀的原理和優(yōu)勢

更新時間:2018-08-26      點擊次數(shù):2769
 人工晶狀體半成品測量儀的原理:
    設(shè)備包括一套由低摩擦系數(shù)材料制造而成的內(nèi)徑誤差在±0.04mm以下的圓柱孔座和一臺度為0.5度的光學(xué)角度測量儀組成。用于測試人工晶狀體在一個處方直徑內(nèi)的支撐眼組織和接近*接觸狀態(tài)。
    人工晶狀體半成品測量儀按標(biāo)準(zhǔn)提供一套符合要求的EXCEL格式測試報告軟件,其中已經(jīng)嵌入相關(guān)計算公式。*符合YY0290-2008附錄D相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計完成。
人工晶狀體半成品測量儀的優(yōu)勢:
   測量鏡片表面任何區(qū)域的曲率半徑。
   測量散光,軸線及殘余散光。
    干涉條紋可以體現(xiàn)整個表面的光學(xué)特征。
    數(shù)值化和圖形化整個表面的曲率分布。
    對刀分析功能能夠提供加工過程中刀具的各種珍貴信息,如刀具精度,是否對準(zhǔn),是否磨損等。
人工晶狀體半成品測量儀其他優(yōu)勢:
    可以輕易分辨細(xì)微的表面缺陷,即便是某些其他設(shè)備不可見的細(xì)節(jié)。
    不需要特殊的防震平臺。
    可測量樣品的整個表面區(qū)域,包括環(huán)形區(qū)域。
人工晶狀體半成品測量儀的技術(shù)參數(shù):
    測量范圍:3-64mm凸面或凹面
    測量精度:優(yōu)于5微米
    重復(fù)性:優(yōu)于2.5微米
    測量時間:5-8秒(球鏡)
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